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求问各位大佬，AFM的轻敲模式能不能测出二氧化硅片上2-3纳米左右的介孔
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如题，小弟做出来了二氧化硅片，TEM上能看到明显的垂直介孔，于是想用AFM测量片的厚度，结果上测出来的几个纳米，但是上面的贯穿孔感觉没测出来（信号是锯齿状，但是没有到基线），是不是轻敲模式测不出来贯穿孔，或是我的孔径太小测不出 ， |
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