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求问各位大佬,AFM的轻敲模式能不能测出二氧化硅片上2-3纳米左右的介孔
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如题,小弟做出来了二氧化硅片,TEM上能看到明显的垂直介孔,于是想用AFM测量片的厚度,结果上测出来的几个纳米,但是上面的贯穿孔感觉没测出来(信号是锯齿状,但是没有到基线),是不是轻敲模式测不出来贯穿孔,或是我的孔径太小测不出 , |
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