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huihuihuang新虫 (正式写手)
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关于利用椭偏仪测试双层薄膜的光学常数问题
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请教一个问题: A:N型硅片上沉积有富硼层,B:N型硅片上沉积有富硼层和硼硅酸玻璃层(硼硅酸玻璃层在上) (a)采用椭偏分析仪测试样品A,得到样品A的Ψ (A) -λ曲线、采用椭偏分析仪测试样品B,得到样品B的Ψ (B) -λ曲线; (b)基于第一性原理密度泛函方法,求解得到样品A富硼层的厚度、折射率和消光系数; (c)将样品A富硼层的厚度、折射率和消光系数带入样品B的Ψ (B) -λ曲线,通过拟合分析得到样品B硼硅玻璃层的厚度、折射率和消光系数。 请问从步骤(C)中得到B中硼硅酸玻璃层的光学常数的原理是什么?是很常规的利用椭偏仪测试薄膜厚度与光学常数的方法吗? |
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Nano2016
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4楼2020-05-18 12:11:02
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2楼2020-05-17 21:46:01
huihuihuang
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3楼2020-05-17 22:15:01










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