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yzlovehss

[交流] 【求助】一个关于ATR和普通红外的问题

对ATR不是太了解,只知道可以检测材料的表界面性质。现在想利用它和普通透射红外的区别对一个材料作个测试对比,想法不知是否科学,求助各位大虫~

样品A,用B对A进行了表面接枝修饰。之后样品中未接上去的B由于难以使用常规方法清除,所以考虑用以下手段证明发生了表面修饰。

同一个仪器。
先用普通红外样品台做普通透射红外,B的特征峰和A的特征峰相对强度比设为X;
然后用全反样品台做ATR,两者之比为Y。

如果Y的值显著大于X,是不是就能说明发生了表面修饰呢?

谢谢大家~!
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lijing_055

金虫 (小有名气)

★ ★ ★
yzlovehss(金币+3,VIP+0):谢谢讨论~! 7-8 09:16
我觉这个方法得不是太可取,本身ATR在高波数的谱峰强度就比较弱,且两者光谱范围不同,建议用红外显微镜找点进行测试
2楼2009-07-07 09:15:47
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lucky332

铜虫 (小有名气)

★ ★
yzlovehss(金币+2,VIP+0):谢谢讨论~! 7-8 09:16
直接投射应该就有区别吧,因为化学环境变了。
低下来,沉下去!
3楼2009-07-07 11:59:45
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ypf13

木虫 (著名写手)


opq691(金币+1,VIP+0):感谢参与交流,欢迎常来分析版 7-9 18:46
或者都用ATR,测试A和B的谱图,肯定有差别
4楼2009-07-07 20:27:33
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pinguo

铁杆木虫 (著名写手)

★ ★ ★
小木虫(金币+0.5):给个红包,谢谢回帖交流
opq691(金币+2,VIP+0):感谢参与交流,欢迎常来分析版 7-9 18:47
我觉得不可行,因为ATR和普通红外从本质上面来说是一样的。只不过使用ATR会使用到多次反射,你会得到更好的结果。
我会这样子实行这个实验,测量A表面,然后测量一个B的红外,使用压片法或者别的方法,得到B的IR光谱,然后测量A+B的光谱,对比A和B的纯光谱,得出接枝后出现的新峰,这样子的话就会看看是不是你的表面真的发生了接枝反应。
5楼2009-07-09 18:01:50
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yzlovehss

引用回帖:
Originally posted by pinguo at 2009-7-9 18:01:
我觉得不可行,因为ATR和普通红外从本质上面来说是一样的。只不过使用ATR会使用到多次反射,你会得到更好的结果。
我会这样子实行这个实验,测量A表面,然后测量一个B的红外,使用压片法或者别的方法,得到B的IR ...

谢谢~!
6楼2009-07-10 15:27:57
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