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小木虫论坛-学术科研互动平台 » 材料区 » 无机非金属 » 材料测试 » 【讨论】SEM与TEM的区别究竟有哪些？
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新虫 (正式写手)

[交流] 【讨论】SEM与TEM的区别究竟有哪些？

SEM与TEM的区别，貌似简单，实际上很少有人能完全讲透彻明白
请重点阐明：1、SEM与TEM所表征的样品属性有何不同，比如同一个材料，用SEM和TEM，所得到的信息究竟有何不同，两者的适用范围如何区分；2、两者在样品制备上有何不同；3、两者有何联系吗（比如同一个样品的SEM图谱与TEM图谱，是否有某种联系）？
谢谢！
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1楼 2009-06-19 00:08:03
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Hansen3110

银虫 (小有名气)
★
小木虫(金币+0.5):给个红包，谢谢回帖交流
这个知识点刚学了，上面的已经说得很好了
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16楼2009-06-19 11:49:02
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hjm009

铁杆木虫 (初入文坛)
★ ★ ★
小木虫(金币+0.5):给个红包，谢谢回帖交流
hslining(金币+2,VIP+0):谢谢回答！ 6-19 07:52
放大倍数不一样，原理也不一样！TEM比SEM分辨率更高，有些样品可以没必要做TEM测试！
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2楼2009-06-19 00:26:07
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hjm009

铁杆木虫 (初入文坛)
★ ★
hslining(金币+2,VIP+0):谢谢回答！ 6-19 07:52
样品制备上也存在较大的差异，做TEM时要将样品弄到铜网上，这些只要你去测试中心一趟基本都会搞清楚的或找本书看看就行了！对固体样品，TEM对样品的厚度有专门的要求，要很薄！
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3楼2009-06-19 00:29:42
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lys011

银虫 (小有名气)
★ ★ ★ ★ ★ ★ ★ ★ ★ ★ ★
小木虫(金币+0.5):给个红包，谢谢回帖交流
hslining(金币+10,VIP+0):对头！磨到50um左右就可以拿去减薄了。 6-19 07:54
不知道你是哪个学校毕业的，这个问题在本科的时候应该给你讲清楚的，不要以为很少有人能完全将透彻明白，因为你坐在井里面，我其实也坐在井里面，不过你的井口在我的井底，下次问问题的时候要虚心一点。
看你求知欲望还是有点，就告诉你吧
1、SEM样品收集的有二次电子和背散射电子，二次电子用于表面成像，背散射用于不同平均原子量之间的像，就是电子打在样品上，激发出来的二次电子和背散射电子被收集而成的像. TEM是透射电镜，它可以表征样品的质厚衬度，也可以表征样品的内部晶格结构。投射电镜的分辨率比扫描电镜要高一些。
2、SEM样品就我们普通的金相样品酒可以拿去做，而TEM样品观察的部分必须减薄到100nm厚度以下，一般做成直径3mm的片，然后去做离子减薄，或双喷。
3、不知道怎么回答你这个问题
感觉你根本就不懂，基础知识没打牢，来这里让别人给你讲课也太不像话了，上面很多术语或许你没听说过吧，推荐你先去看看电子显微分析的相关书籍吧。
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三人行，必有我师！
4楼2009-06-19 00:31:08
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