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ylming

新虫 (小有名气)

[交流] 【请教】位错密度的测定

那位侧过密度,位错密度如何测
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comma

专家顾问 (知名作家)

材料人

★ ★
小木虫(金币+0.5):给个红包,谢谢回帖交流
xucz(金币+1,VIP+0):感谢交流 6-5 11:54
目前只有TEM能测,但是薄膜表面映像作用对位错组态甚至含量都有影响,所以没有听说有什么好办法做统计
每天一小步也有新高度
2楼2009-06-05 11:35:45
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梦与雪

金虫 (小有名气)

★ ★
小木虫(金币+0.5):给个红包,谢谢回帖交流
ziice(金币+1,VIP+0):感谢您的交流 6-5 22:42
可以用X射线测,只是从精度上还是稍微大点,我有两个博士师兄是用此测定,我也刚用此法测得,趋势还是有的,听说清华是用质子衍射测得最准!1
我爱我家!
3楼2009-06-05 18:44:22
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dianzai

只有TEM能测
4楼2009-06-06 21:08:38
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allenfu

金虫 (著名写手)

学习下
5楼2009-06-06 22:55:54
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w381805837

金虫 (小有名气)


mselxp(金币+1,VIP+0):谢谢交流 6-7 19:45
XRD线形傅氏分析方法
6楼2009-06-07 16:37:57
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风之梦

木虫 (小有名气)

XRD应该只是整体统计的结果吧,TEM是局部的
7楼2009-06-08 20:34:45
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hotday

金虫 (著名写手)

合金粉末工程师


小木虫(金币+0.5):给个红包,谢谢回帖交流
在我所知道的方法中,也就TEM了,其他高深的不太懂
活着,就是向圣贤和傻瓜学习
8楼2009-06-08 21:49:53
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may673

铁杆木虫 (正式写手)

★ ★
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yusen_1982(金币+1,VIP+0):欢迎讨论 6-10 23:54
位错密度的测定有两种方法:1.X射线方法;2.电子显微镜方法。黄孝瑛的《材料微观结构的电子显微学分析》冶金工业出版社 2008 一书有有详细的介绍。
TEM样品制备与TEM分析测试
9楼2009-06-09 08:41:07
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hui_jun_li

木虫 (正式写手)

★ ★ ★
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yusen_1982(金币+2,VIP+0):欢迎讨论 6-10 23:54
可以用正电子湮灭法测定.
10楼2009-06-09 08:58:09
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