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晶粒大小与微观应力大小的测定(谢乐公式)
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一、衍射峰的宽化效应 从理论上来说,X射线衍射图谱应该是一条一条的衍射线组成,但是由于衍射仪和样品本身的原因,实际得到的衍射图谱是由具有一定宽度的衍射峰构成的,每个衍射峰下面都包含了一定的面积。 宽化由仪器宽化和样品宽化(物理宽化)两方面的原因引起。 1.仪器宽化 条件引起的宽化,称为仪器宽化。引起仪器宽化的因素很多,其中主要包括:X射线源 接受狭缝 试样吸收 平板试样和垂直发散。它们其中每个因素引起的衍射图谱如下所示。综合这5个因素所得到的峰形与实测的峰形不一致,但是引进调整函数g(x)= 后,两者能够很好的符合。 2.物理宽化 由于样品本身原因引起的宽化叫做物理宽化。引起物理宽化的主要因素是:晶粒细化和微观应力的作用,此外还有晶体位错和孪晶等。 (1)晶粒尺寸引起的衍射峰宽化 由衍射的物理知识可知衍射方向散布在与干涉函数峰值对应的K及其近旁极窄的范围内,而且晶体越大,范围越窄,因而只有在晶体足够大的情况下布拉格公式才被严格的遵守。如果晶体很小(<100nm)的话,衍射方向就会从方程的掠射角向两旁漫射,反应在多晶衍射花样上则是衍射谱线的宽化。 在不考虑仪器宽化和由晶格畸变引起的宽化的时候,晶粒大小可由谢乐公式计算 谢乐公式应用时应该注意的几点: ① 谢乐公式只有在得到只由晶粒细化引起的峰形宽度时才可应用,如果峰形宽度包括由仪器宽化和晶格畸变引起的宽化时,必须进行分离。 ② 所得到的晶粒尺寸只表示hkl面法线方向的的平均晶粒大小,与其他方向无关。 ③ 谢乐公式应用范围是晶粒大小在1-100nm,超过100nm就不能使用此公式来计算。 ④ 半高宽度:将衍射峰最大值一半处的峰形宽度定位半高宽 ⑤ 积分宽度:将衍射峰的积分强度IN除以峰高的强度IP所得的值。 (2)微观应力引起的衍射峰宽化 材料在制备和加工处理的过程中在内部产生了微观应力(微观应力的特征:在相邻晶粒中和一个晶粒的不同部位,应力的大小、方向,甚至符号均不相同,但在宏观上却无应力显示。),微观应力的存在使材料中不同晶粒和一个晶粒不同部位的同一(hkl)面的面间距不再相等,称微畸变。微畸变使相应的 hkl亦不全相同,这时多晶衍射花样的hkl谱线其实是众多个布拉格角与无畸变的 hkl有不同程度的微小偏离的衍射峰叠合而成的宽峰。 |
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本内容由用户自主发布,如果其内容涉及到知识产权问题,其责任在于用户本人,如对版权有异议,请联系邮箱:xiaomuchong@tal.com - 附件 1 : X射线衍射在纳米材料物理性能测试中的应用1.pdf
- 附件 2 : 晶粒大小与微观应力大小的测定.docx
- 附件 3 : 谢乐公式.docx
- 附件 4 : 谢乐公式测分子筛的直径大小.pdf
- 附件 5 : 谢乐公式测试金和银的大小尺寸.pdf
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简简单单呵呵3楼
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xmczlp5楼
2023-10-27 15:33
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