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wanghui0429银虫 (正式写手)
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[交流]
请教：X射线光电子能谱的化学位移
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我做的是复合物，在复合之后发现有几个元素的电子结合能同未复合时相比有2ev的变化。审稿人提出这个化学位移不应该是由于复合之后形成的氢键或者静电作用而引起的，而是因为基线问题。 我的样品是在同一个仪器上做的xps表征，不应该存在基线不一样的问题。即使存在这个问题，基线的偏差大概为0.4ev左右，也不会达到2.0ev。 最后发表我的观点：我觉得是审稿人在某一领域的偏见，认为不可能因为氢键或者静电作用产生这样大的化学位移。我个人觉得这样的可能性存在，但是我没有找到相关的证据去否定他。 不知道我的想法是否对，希望大家帮助一下。 |
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qingfeng877680
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wanghui0429
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