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XPS测试其中一个元素结合能偏高很多
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最近做了一组Ta掺杂InTe样品的XPS测试，在对C元素进行电荷校正后，发现In和Te元素的位置可以对上，但Ta的4d和4f结合能都偏高很多，Ta4d都高了10几个eV，请问可能的原因是什么？ 第一次测xps也不会分析。。。 发自小木虫Android客户端 |
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