| 查看: 361 | 回复: 0 | ||
201418009222新虫 (小有名气)
|
[求助]
XAFS请教
|
| 请教一个问题。请问硬x射线XAFS荧光模式和投射模式的检测深度各是多少呢,比方说测试10微米左右的粉末,XAFS反映的是整个颗粒的平均信息还是只是颗粒表面若干深度(比如200nm以内)的平均信息呢。谢谢。 |
» 猜你喜欢
武汉纺织大学材料学院杰青团队招收调剂研究生(限高分子、化学、材料、化工相关专业)
已经有11人回复
296材料专硕求调剂
已经有22人回复
无机非金属材料论文润色/翻译怎么收费?
已经有167人回复
锂优电池测试仪如何实现电池性能检测的精准性与可靠性
已经有0人回复
山东省高分子材料循环与回收利用重点实验室招收2026级申请考核制博士
已经有0人回复
仿真模拟
已经有0人回复
求助CuTeS化合物的cif文件
已经有0人回复
湖南工业大学材料科学与工程学院李娜教授课题组硕士研究生招聘
已经有0人回复
湖南工业大学材料科学与工程学院李娜教授课题组硕士研究生招聘
已经有0人回复
重庆科技大学材材料学院电子信息复合材料课题组招收材料类、化学类、材料与化工类硕士
已经有0人回复
重庆科技大学-电子信息复合材料课题组招收化学类硕士
已经有0人回复













回复此楼