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测量阻抗时对系统进行不同程度的干扰会对测量结果有什么影响呢? 已有1人参与
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如题,防腐涂层,基底是铝合金,最原始的涂层体系浸入电解质后基本一小时内开路就能稳定下来,测阻抗的交流幅值为10mV即可;调整涂层结构后,开路迟迟不稳,还是以10mV交流幅值测阻抗的话点会特别跳,昨晚把开路时长设为12小时,今早来看还是不稳,类似XRD的那种锯齿型……无能为力,试着对系统施加更高干扰,也即用20mV交流幅值测阻抗,从图形来看并没有像之前那样跳,就是不知道会不会对结果产生什么影响!!! 跪求大神解答,小弟在此拜谢!!! 发自小木虫Android客户端 |
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2楼2019-05-22 15:29:29
3楼2019-05-22 15:29:37
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4楼2019-05-22 15:38:07
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开路一段时间内很稳,上下波动5mV以内,过几分钟后突然跳到另一个平台,此平台和前面相差较大但不大于20mV,然后在此平台上下波动5mV以内,稳定几分钟后又跳至另一电位平台……循环往复,忽上忽下,但整体还是在某一电位值上下 发自小木虫Android客户端 |
5楼2019-05-22 19:24:12
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如果电位波动本身已经达到20mV了,那么显见小于这个值的扰动也就无法得到想要的反馈了。 发自小木虫IOS客户端 |
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