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hbslove木虫 (正式写手)
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[求助]
关于XPS的几个疑问，请大神指点 已有1人参与
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最近做了个样品的XPS分析，我也在论坛逛了好几天，查了些资料，大概了解了一下。但是还有几个问题，实在是搞不清，周围的同学也没做过，所以冒昧请教一下各位大神。 （1）全谱扫描只是用来进行定性分析的吧？窄谱是单独进行扫描的吗？还是从全谱里面单独分出来的？ （2）我用Avantage软件对全谱进行了简单分析，软件自动对可能的元素都标出来了。但是，如果一个元素出了多个峰的话，选择哪一个峰作为该元素百分比计算的依据呢？ （3）再就是，如果要对元素价态进行分析，比如砷，一般是0，+3，+5，好像一般都是用As3d这个峰进行分峰，假如分成+3和+5价话，是不是以文献资料上的结合能数据确定位置？如果采用As2p3/2这个峰，是否也能进行分峰呢？ 这是这几天困扰我的几个主要问题，麻烦大神留言，非常非常感谢  @hwweven |
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9楼2019-06-05 00:54:45
17361636107
新虫 (著名写手)
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xps只能测到材料表面几纳米的各个元素， 把一种元素的所有峰面积加和除以 灵敏度因子就该元素含量。仅供参考 发自小木虫Android客户端 |
» 本帖已获得的红花（最新10朵）
hbslove2楼2019-05-19 23:35:29
【答案】应助回帖
感谢参与，应助指数 +1
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1.全谱一般只是用来定性的，因为测试条件原因，定量误差比较大；我见过一些客户送样过来要求用全谱来计算定量也是有的、因为他们最终使用数据时的要求没那么准确；做科研的话一般都要对每个元素采集窄谱，用更精细的条件，花的时间更长，这样可以看到更精细和化学态，定量也更准确 发自小木虫IOS客户端 |
3楼2019-05-20 11:46:10
4楼2019-05-20 11:47:32
