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jova

[交流] 【求助】请教高手,XRD中,厚度与结构的关系????

各位大侠,我做的是氧化物薄膜,通过XRD,我得到的结果是:

随着薄膜的厚度增加,2T值越来越小于体材料的2θ值
我很不解:-(,按理说厚度越大越接近体材料,那么2θ值应该越接近体材料的2θ啊??

这是真么回事呀?你们遇到过这种情况么?有什么好的建议么?
请各位大侠伸出援手,救救我,考虑这个问题好久了~~~~~~~~~



[ Last edited by jova on 2009-5-20 at 11:03 ]
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lvyifei9286

金虫 (正式写手)

★ ★
ufoer(金币+1,VIP+0):3x 5-21 11:37
jova(金币+1,VIP+0):谢谢,这个原因肯定是应该存在的。 5-25 14:57
你说是的应该是衍射峰的2θ角度吧,有可能是是薄膜存在较大的内应力,从而使得相应的晶格参数发生较大的变化
3楼2009-05-20 14:41:37
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dong1259

银虫 (小有名气)


ufoer(金币+1,VIP+0):3x 5-21 11:37
什么是材料的2T值啊?
只知道XRD中有d值,有强度,半高度,积分强度
2楼2009-05-19 19:17:04
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sunxinli

★ ★
ufoer(金币+1,VIP+0):3x 5-21 11:37
jova(金币+1,VIP+0):我想了下,您说的这个原因很可能是最关键的。谢谢 5-25 14:56
楼主试用专门测试薄膜的XRD测吗?如果不是的话,薄膜放置的位置会造成峰位的偏移。
4楼2009-05-20 15:30:26
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