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zhuzhen

木虫 (正式写手)

[交流] 【请教】透射谱吸收边折了一段

如图,生长的氧化锡薄膜,大约100多nm厚,为啥吸收边在275nm处向左折了一段?计算带隙时小于275nm的谱线数据是不是不能用了。换过分光计,证明不是仪器的原因
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zhuzhen

木虫 (正式写手)

引用回帖:
Originally posted by simoncheng at 2009-5-15 20:09:
是不是制备出的薄膜非正比或有其他杂质大量存在而干扰所致
楼主用的是什么方法来制备的呢

MOCVD方法,肯定有氧缺陷,真空氛围应该不会有太多杂质吧。会不会是由于带尾态呢?
3楼2009-05-16 10:37:28
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simoncheng

银虫 (小有名气)


yangruirui(金币+1,VIP+0):欢迎交流 5-15 20:28
是不是制备出的薄膜非正比或有其他杂质大量存在而干扰所致
楼主用的是什么方法来制备的呢
2楼2009-05-15 20:09:08
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