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s638638

铁虫 (小有名气)

[交流] 【求助】【求助】态密度图分析

不清楚文献中DOS图的这种分析方法,请了解的帮忙解释下
这篇文献是分析TiO2体相以及(110)完整和氧缺陷表面的DOS,价带由O的2p构成,导带由Ti3d构成,完整面DOS的费米面在价带顶,缺陷面DOS的费米面在导带底(或者穿过部分导带),此图在分析的时候为什么可以移动缺陷面DOS图使其费米面在价带顶,文献只说为了比较的方便(For comparison,the slab DOS are shilted so that the top of the O 2p DOS coincides with the fermi level),可是这样做有道理吗?能随便移动吗?还有,下面这句话什么意思?The extent of occupation of the CBs is indicated with vertical black lines.
非常困惑,亟待解释,多谢
不知各位可否看到附件图片
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s638638

铁虫 (小有名气)

★ ★
fegg7502(金币+2,VIP+0):鼓励交流! 5-9 17:09
可是,如果移动了,那导带和费米面之间的距离不就改变了吗,还是不懂...
最后一句的理解,占据程度?也不是很清楚
很感谢你的回复
4楼2009-05-08 20:16:32
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sars518

木虫 (著名写手)

小木虫灌水大队队长

你把整篇文献的链接贴出来  这样可以看清楚点
人生是一场旅行,在欣赏风景的同时,别忘了你也是别人的风景。
2楼2009-05-08 16:46:03
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050610727

木虫 (著名写手)

★ ★
s638638(金币+2,VIP+0): 5-8 20:18
我也正在做这方面的论文的
主要也是研究ZnO半导体性能的
到了态密度这一块也有也谢困惑
说说我的个人理解:对与你说的这个情况。我觉得可以这样移动的
因为移动了并不影响你的计算结果的讨论,是一种数据处理的方法
很多地方都要用到这种方法
The extent of occupation of the CBs is indicated with vertical black lines.
这个的理解:CB占据的程度可以由图中的垂直黑线表示出来
不知道这样理解对不?
Whenyou'regoodtoothers,youarebesttoyourself!
3楼2009-05-08 18:43:27
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s638638

铁虫 (小有名气)

顶一下,希望得到回复
5楼2009-05-09 14:28:24
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