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[交流]
XPS测试结果如何与MS计算的电子结构性质（DOS,EDD等）联系起来？
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| 各位大神，如何用计算得到的电子性质（态密度，差分电荷，布局分析）来对应XPS测试结果？ |
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8楼2018-12-20 12:23:00
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我不叫毛一一(金币+1): 谢谢参与
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我不是做实验的，xps细节不太清楚，但是原则上来讲，DFT是不能算激发态的，无论是泛函的问题也好还是KS 方程的问题， DFT理论上来讲都不能给出理论正确的谱图。 XPS原理上来讲应该还是光电效应，只不过通过X 射线能打到一些芯态。我没记错的话横坐标应该是 binding energy，这样的话其实一个无噪声的XPS图应该就是一张表面态的dos图。 如我上面所说，DFT并不从理论上支持计算激发态性质（部分泛函可能可以经验或者半经验的修正）， 考虑的计算力因素，你即便要选DFT计算我认为CASTEP也不是一个一选方法，因为pesudopotential 是冻核的，所有芯态问题都反应不出来，这意味着你应该选择一个全势方法来计算谱函数，比如 LAPW或者APW+lo。 但是真正理论上的预测，应该用GW或者TDDFT。 发自小木虫IOS客户端 |
10楼2018-12-20 20:58:06
简单回复
youngen2楼
2018-12-19 06:56
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youngen3楼
2018-12-19 06:57
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youngen4楼
2018-12-19 06:59
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2018-12-19 10:15
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2018-12-20 08:54
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2018-12-20 09:54
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jiaoxg9楼
2018-12-20 14:17
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youngen11楼
2018-12-22 09:00
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