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我不叫毛一一

新虫 (小有名气)


[交流] XPS测试结果如何与MS计算的电子结构性质(DOS,EDD等)联系起来?

各位大神,如何用计算得到的电子性质(态密度,差分电荷,布局分析)来对应XPS测试结果?
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我不叫毛一一(金币+1): 谢谢参与
态密度可以
8楼2018-12-20 12:23:00
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涪东耳

金虫 (小有名气)



我不叫毛一一(金币+1): 谢谢参与
我不是做实验的,xps细节不太清楚,但是原则上来讲,DFT是不能算激发态的,无论是泛函的问题也好还是KS 方程的问题, DFT理论上来讲都不能给出理论正确的谱图。

XPS原理上来讲应该还是光电效应,只不过通过X 射线能打到一些芯态。我没记错的话横坐标应该是 binding energy,这样的话其实一个无噪声的XPS图应该就是一张表面态的dos图。


如我上面所说,DFT并不从理论上支持计算激发态性质(部分泛函可能可以经验或者半经验的修正), 考虑的计算力因素,你即便要选DFT计算我认为CASTEP也不是一个一选方法,因为pesudopotential 是冻核的,所有芯态问题都反应不出来,这意味着你应该选择一个全势方法来计算谱函数,比如 LAPW或者APW+lo。

但是真正理论上的预测,应该用GW或者TDDFT。

发自小木虫IOS客户端
10楼2018-12-20 20:58:06
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youngen2楼
2018-12-19 06:56   回复  
我不叫毛一一(金币+1): 谢谢参与
youngen3楼
2018-12-19 06:57   回复  
youngen4楼
2018-12-19 06:59   回复  
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2018-12-20 08:54   回复  
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jiaoxg9楼
2018-12-20 14:17   回复  
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youngen11楼
2018-12-22 09:00   回复  
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