| 查看: 991 | 回复: 2 | ||
[求助]
半导体霍尔效应及其相关应用
|
| 样品是金属钛片上沉积了一层四氧化三钴，我是学化学的，对半导体物理不怎么了解。审稿人要求用霍尔系数来判断N或P类型（其实我已经用莫特肖特基曲线判定了，但审稿人要求霍尔系数判断）。是用Vh--Is曲线的斜率正负（和霍尔系数正负一致？）判断导体属性？样品的n或p浓度如何通过霍尔测试同时测得？还是测得的比值？是否只能知道其n型载流子浓度（n掺杂浓度）或者p型载流子浓度（p型掺杂浓度）？ |
回复此楼» 猜你喜欢
请问哪里可以代烧带压力的炉子？
已经有6人回复
-
关于合成MIL-125的求助
已经有0人回复
-
化学工程及工业化学论文润色/翻译怎么收费?
已经有127人回复
-
双非本硕光催化方向想读博，请各位老师看看我！
已经有2人回复
-
瑞典林雪平大学范立洲课题组现招聘博士后、岗位制博士生
已经有0人回复
-
中国科大仿生界面材料科学全国重点实验室戴懿涛研究员/江雷院士团队招聘科研助理
已经有0人回复
-
中国科大仿生界面材料科学全国重点实验室戴懿涛研究员/江雷院士团队招聘科研助理
已经有0人回复
-
寻求物理化学学报最新的投稿模板！
已经有4人回复
-
东南大学杰青/海优团队招聘催化方向博士后
已经有866人回复
-
投稿咨询
已经有7人回复
-
自科面上 散金币 祈福
已经有61人回复
2楼2018-11-30 09:18:18
3楼2019-04-27 12:23:01
