| 查看: 892 | 回复: 2 | ||
[求助]
半导体霍尔效应及其相关应用
|
| 样品是金属钛片上沉积了一层四氧化三钴，我是学化学的，对半导体物理不怎么了解。审稿人要求用霍尔系数来判断N或P类型（其实我已经用莫特肖特基曲线判定了，但审稿人要求霍尔系数判断）。是用Vh--Is曲线的斜率正负（和霍尔系数正负一致？）判断导体属性？样品的n或p浓度如何通过霍尔测试同时测得？还是测得的比值？是否只能知道其n型载流子浓度（n掺杂浓度）或者p型载流子浓度（p型掺杂浓度）？ |
回复此楼» 猜你喜欢
湖南大学招收锂离子电池、离子液体、高分子与凝胶材料、电催化方向博士生多名
已经有5人回复
-
关于五水硝酸铋还原得到单质铋的问题
已经有1人回复
-
物理化学论文润色/翻译怎么收费?
已经有254人回复
-
山东省青年基金什么时候拨款
已经有34人回复
-
T/FSI 177-2024 氟化工企业安全生产规范
已经有0人回复
-
CES投稿
已经有2人回复
-
如何掌握一门外语？
已经有0人回复
-
企业为什么一定要做“专精特新”认定？如何成为专精特新企业？
已经有5人回复
-
求助ASIQwin新版本的软件
已经有0人回复
-
求全国高速分析学术交流会论文集
已经有1人回复
-
期待科研合作，共同发表论文
已经有144人回复
2楼2018-11-30 09:18:18
3楼2019-04-27 12:23:01