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NEHS新虫 (小有名气)
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聚合物薄膜折射率值测试
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我了解到薄膜的n、k值一般用椭偏仪来测得，但是椭偏仪测试对样品有些要求： 1) 薄膜最好制备在特性已知的基底上（如抛光的Si片）; 2) 待测膜厚一般要求较薄（比如<4um） 但是这两个条件在很多场景下难以满足。 比如厚度在20-100um的透明膜材（PI、PET、COP、PC等），其中一些材料还具有各向异性。 那针对这类样品，要如何测试其n、k值呢，各位有何建议？  |
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2楼2018-12-01 22:19:10
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