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小木虫论坛-学术科研互动平台 » 计算模拟区 » 第一性原理 » MS » MS计算中带隙和有效质量计算的问题
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h1185014448

银虫 (小有名气)

[求助] MS计算中带隙和有效质量计算的问题

实验上制备的薄膜现在想要获得其有效质量，通过MS计算后发现带隙偏小。之前看到教程上说是通过取导带底和价带顶的数据，然后得出二阶导数求有效质量。现在计算大带隙偏小，是否可以用这种方法呢？是否对求解有影响呢？
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但行好事，莫问前程。
1楼 2018-10-18 09:41:26
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h1185014448

银虫 (小有名气)
引用回帖:
2楼: Originally posted by 锋哥骑驴 at 2018-10-18 15:23:14
没影响  可以用你的结果算有效质量  你就算用HSE修饰了能带  能带的形状也不会变多少～

能否请教下计算有效质量的具体方法？

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但行好事，莫问前程。
3楼2018-10-19 15:04:07
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锋哥骑驴

新虫 (初入文坛)
没影响  可以用你的结果算有效质量  你就算用HSE修饰了能带  能带的形状也不会变多少～

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2楼2018-10-18 15:23:14
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kaka34

银虫 (小有名气)
参考半导体物理  origin作图求二阶倒数

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4楼2018-10-21 15:34:22
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h1185014448

银虫 (小有名气)
引用回帖:
4楼: Originally posted by kaka34 at 2018-10-21 15:34:22
参考半导体物理  origin作图求二阶倒数

求完二阶导数后，带去公式时需要的那个晶格常数，如果是a=b，不等于c应该怎么取呢

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但行好事，莫问前程。
5楼2018-10-21 17:03:41
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