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hazard2009新虫 (小有名气)
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[交流]
求问一个c-afm的问题
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由于c-afm的探针尖端接触面积非常小，所以加电后的电场强度特别大，是这样的吗？比如电极测试I-V的话，电极的直径约为1mm，探针的接触面积直径约为10nm，那么电场强度就差了十个数量级。那c-afm的测试结果就和一般的电极测试的i-v结果没什么可比行了是这样吗？在一般情况下比较高电压下击穿的薄膜元件，用探针测试，极小的电压下就击穿了，是这样吗？ 发自小木虫IOS客户端 |
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