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小木虫论坛-学术科研互动平台 » 材料区 » 功能材料 » 测试表征 » 透射电镜截面样品制备，如何能保证样品一直垂直的往下磨？
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邬新

金虫 (小有名气)
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透射电镜截面样品制备，如何能保证样品一直垂直的往下磨？
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入行透射电镜薄膜截面样品制备时间不久，现在勉强能测，分析后发现就连STO衬底的d值都和PDF卡片对不上。
分析原因，大概是因为样品的倾斜，导致现在测到的d值不是真实的，而是晶格斜面的长度。
不知道大家有没有遇到这样的问题，又如何避免呢？

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1楼 2018-09-25 21:29:43
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穿越千年

版主 (著名写手)
★
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引用回帖:
26楼: Originally posted by 邬新 at 2018-09-28 01:10:48
我通过两种方法测d值呀，都大了一些。
一种是选区域FFT，然后量最近两个点子的距离。
另一种是直接用标准工具里的统计图那个选项，测两个峰之间的距离。
...

你的样品有没有掺杂，有没有很大的应力，你说大了一些具体是多少？和PDF卡片差小数点后两位是很正常的。
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27楼2018-09-28 15:38:20
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tzynew2楼
2018-09-25 21:30   回复  
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haojing20114楼
2018-09-25 21:30   回复  
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jixiangbao9楼
2018-09-25 21:33   回复  
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hdchina20103楼
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123ysl13楼
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倾偌闲14楼
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傲然12楼
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yo105137910楼
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jlf43963511楼
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84b8616065楼
2018-09-25 21:32   回复  
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b5c1697876楼
2018-09-25 21:32   回复  
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pgx5692058楼
2018-09-25 21:32   回复  
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dxi3987237楼
2018-09-25 21:32   回复  
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