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软包锂电池测试边电压为什么测试阴极而不直接测试阳极？已有8人参与
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有大神知道这个原因吗？ 软包锂电池边电压（IV）测试是为了检测电池阳极Ni Tab与Al Foil的电子通路。它通过检测阴极Al Tab与Al Foil之间的电压，侧面表示阳极Ni Tab与Al Foil的电子通路。当阳极Ni Tab与Al Foil有电子导通时，则IV会比较大，表明Ni Tab封装有缺陷，有发生腐蚀的风险。反之，当阳极Ni Tab与Al Foil没有电子导通时，则IV会比较小，表明Ni Tab封装好，发生腐蚀的风险很低。当然，Pocket的PP层由于有缺陷，极化的作用会使得IV值较大，导致我们判定的时候会有将PP层有缺陷而Ni Tab封装没有缺陷的也挑选出来，导致过杀。 可是，为什么不直接测试Ni Tab与Al Foil之间的边电压呢？有大神知道吗？就是说，PP层的缺陷，到底是怎么影响直接测试Ni Tab与Al Foil之间的边电压的？ 有大神能详细说明一下吗？有大神是做IV方面的工作的吗？ 有的人说直接测试Ni Tab与Al Foil之间的边电压是无法筛选出Ni Tab封装不良的，会受到PP层缺陷的影响。PP层缺陷会导致所测边电压（IV）偏大。但我还是没有明白到底是怎样子的？有大神能帮我解答吗？ 谢谢啦 另外一个问题，有的人说直接测试Ni Tab与Al Foil之间的边电压是没有一个回路出现的，需要单独另加电源，请问这个怎么理解？ 求大神解答，谢谢  |
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6楼2018-08-27 07:45:21
2楼2018-08-26 22:36:48
tomkk88
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3楼2018-08-26 23:29:28
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123 发自小木虫Android客户端 |
4楼2018-08-26 23:45:25
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