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软包锂电池测试边电压为什么测试阴极而不直接测试阳极？已有8人参与
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有大神知道这个原因吗？ 软包锂电池边电压（IV）测试是为了检测电池阳极Ni Tab与Al Foil的电子通路。它通过检测阴极Al Tab与Al Foil之间的电压，侧面表示阳极Ni Tab与Al Foil的电子通路。当阳极Ni Tab与Al Foil有电子导通时，则IV会比较大，表明Ni Tab封装有缺陷，有发生腐蚀的风险。反之，当阳极Ni Tab与Al Foil没有电子导通时，则IV会比较小，表明Ni Tab封装好，发生腐蚀的风险很低。当然，Pocket的PP层由于有缺陷，极化的作用会使得IV值较大，导致我们判定的时候会有将PP层有缺陷而Ni Tab封装没有缺陷的也挑选出来，导致过杀。 可是，为什么不直接测试Ni Tab与Al Foil之间的边电压呢？有大神知道吗？就是说，PP层的缺陷，到底是怎么影响直接测试Ni Tab与Al Foil之间的边电压的？ 有大神能详细说明一下吗？有大神是做IV方面的工作的吗？ 有的人说直接测试Ni Tab与Al Foil之间的边电压是无法筛选出Ni Tab封装不良的，会受到PP层缺陷的影响。PP层缺陷会导致所测边电压（IV）偏大。但我还是没有明白到底是怎样子的？有大神能帮我解答吗？ 谢谢啦 另外一个问题，有的人说直接测试Ni Tab与Al Foil之间的边电压是没有一个回路出现的，需要单独另加电源，请问这个怎么理解？ 求大神解答，谢谢  |
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小毛球: 金币+1, 谢谢参与 2018-11-23 06:59:39
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小毛球: 金币+1, 谢谢参与 2018-11-23 06:59:39
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首先你要搞清楚腐蚀机理，也就是两个通道的形成；首先离子通道的形成无法避免，这种情况下可以把Al foil 看做第三电极，所以这个时候你测量Al foil 和正负极tab都有电压，两电压想加等于电芯OCV，这时候你根据电压怎么判断？ 那么再考虑电子通道，如果Ni tab 和Al foil 有接触形成电子通道，这时候更应该测她们之间的导通电阻才对（显然这个阻抗很难测量），这时候铝层和负极直接导通同时处于低电位，腐蚀就产生了。我们测试正极边电压其实反应出来的是负极边电阻状况。 发自小木虫Android客户端 |
12楼2018-08-28 12:24:43
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离子通道形成的“边电压”看做第三电极和正负极之间测得的电压，这个电压值应该比较稳定。 你说的引起正极边电压变大并不是离子通道造成的。 好吧，我们假设一种完全不形成离子通道的理想场景，那么正极tab和铝层之间自然就测不出电压，对吧？如果这个时候负极tab和铝层恰好形成了电子通道，负极tab和铝层物理接触导通了，那么你测到的正极边电压肯定非常高，甚至接近正极tab和负极tab间的开路电压。此时加上离子通道再来凑热闹，铝层自然就腐蚀啦。 手机打字好累。 发自小木虫Android客户端 |
15楼2018-08-28 14:06:00
16楼2018-08-28 14:32:16
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我感觉上面已经解释的很清楚了。想要了解负极和铝层是否存在电子通道，要么测试正极边电压（记得是1V的判定标准），要么测试负极边电阻（这个电阻很难测试，也难以界定）。站内短信江吧。 发自小木虫Android客户端 |
18楼2018-08-29 08:19:54
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