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矢量网络分析仪测电磁参数S参数波导法与同轴线法的区别与联系
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最近遇到利用矢量网络分析仪测S参数的问题，以前到其他单位用同轴线法测到的电磁参数，最近想自己测电磁参数。但是实验室只有波导夹具没有同轴线夹具，且大量的文献均用同轴线夹具。由于同轴线测试样品的圆环厚度为2mm，而波导测试时的厚度有各种各样的，并且S参数应该与样品厚度有一定的关系。那么问题来了，为什么同轴线法测厚度定为2mm呢？在计算反射损耗reflection loss(RL)时候调整d的大小得到不同厚度的RL值是否也只是根据d=2mm测到的permittivity与permeability进行计算的？这样数据是否可信呢？ 那么使用波导法测电磁参数时，样品的厚度不同应该会得到不同的S参数，进而计算出不同的电磁参数，最终可能导致相同的样品在同一厚度d时计算出的RL值不同。这一点我十分困惑，所以，希望有懂同轴线法与波导法测S参数或电磁参数的老师，同学，科研工作者们请教二者的联系与区别。 |
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