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hustnano

铜虫 (初入文坛)

[交流] 【请教】NEXAFS

在文献中看到一种表征方法near edge x-ray absorption fine structure spectroscopy(NEXAFS)用来表征分子面与基底的夹角,想请教一下该方法的原理。
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liuqiying

木虫 (正式写手)


小木虫(金币+0.5):给个红包,谢谢回帖交流
引用回帖:
Originally posted by scu_hth at 2009-5-30 23:44:
NEXAFS: near edge X-ray absorption fine structure  
The Kronig near edge structure has been mostly referred to as the X-ray absorption near edge structure, XANES, or the near edge X-ray absorption ...

can your send this book to me: lqy501@dicp.ac.cn
this book is very important for me, thank you so much!
14楼2009-05-31 12:09:47
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GrasaVampiro

专家顾问 (职业作家)

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memser(金币+4,VIP+0):感谢应助,欢迎常来微纳版讨论、交流,我们期望您能邀请更多该领域的研究人员来微纳版,谢谢! 3-24 12:07
NEXAFS表征元素,化合价都见过,表征构象还真没见过,
NEXAFS是XAS的一种,横轴是能量,比如eV,纵轴是反应吸收率的电子产率,TEY,单位不标或者a.u.,入射光子能量一般是在某共振吸收边eage附近前后可调,如果样品是孤立的原子,则在共振吸收边上吸收呈现无结构的台阶,若原子附近存在其他配位原子,则出射电子被配位原子散射,呈现某种结构,此结构反应原子配位环境或者化学环境。一般用Fourier变换方法抽取信息,谱解析比较复杂
从此不问江湖事
2楼2009-03-24 05:14:51
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semimetal

银虫 (小有名气)

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memser(金币+4,VIP+0):感谢应助,欢迎常来微纳版讨论、交流,我们期望您能邀请更多该领域的研究人员来微纳版,谢谢! 3-24 12:07
NEXAFS用来表征分子面与基底的夹角?我觉得应该是测不同入射角度下的NEXAFS谱吧。因为具有某种取向性的材料他的电子轨道杂化也是具有某个取向的,在不同入射光的照射下,杂化轨道电离截面是不一样的,可以得到不同的NEXAFS谱,进而分析材料的电子结构,然后再看看能不能得到你想要的东西
     软线的NEXAFS一般是用来表征材料的电子结构,有TEY、PEY和AEY三种模式;硬线的NEXAFS一般分为两部分:XANES和EXAFS,有透射模式和荧光模式,XANES可以得到电子信息,EXAFS可以得到吸收原子周围的原子配位信息。这个谱学的东西还挺复杂的,你要了解的话去找马礼敦编的吸收谱相关的书来看看

[ Last edited by semimetal on 2009-3-25 at 09:49 ]
3楼2009-03-24 09:50:27
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GrasaVampiro

专家顾问 (职业作家)

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优秀版主


memser(金币+1,VIP+0):感谢应助,欢迎常来微纳版交流讨论,谢谢。 3-25 12:43
楼上的貌似很专业,不过我记得EXAFS和NEXAFS不同,如同名字暗示的,入射光子能量比吸收边大不少,产生的电子不会被多次散射,我记得不是用于测原子的配位结构吧?
从此不问江湖事
4楼2009-03-24 14:45:20
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