| 查看: 792 | 回复: 3 | ||
| 当前只显示满足指定条件的回帖，点击这里查看本话题的所有回帖 | ||
liuyulun1225新虫 (正式写手)
|
[求助]
半导体薄膜测试IV曲线的样品要求是什么样的啊？
|
|
|
目前是单晶硅上沉积了一层GaN薄膜，想测这种样品的IV曲线。需要镀金属电极嘛？可否用导电胶或者导电玻璃代替？具体怎么加工啊？ 发自小木虫IOS客户端 |
回复此楼» 猜你喜欢
2026年申博
已经有2人回复
-
非气体/碳材料吸附方向-博导推荐
已经有1人回复
-
冶金与矿业论文润色/翻译怎么收费?
已经有175人回复
-
2026年博士申请-环境方向/材料方向
已经有16人回复
-
结晶态硅酸钠中硅含量测定
已经有2人回复
-
硅肥中硅含量测定
已经有0人回复
yuxiankun
金虫 (正式写手)
- 应助: 0 (幼儿园)
- 金币: 3262.9
- 红花: 1
- 帖子: 619
- 在线: 72.1小时
- 虫号: 1531774
- 注册: 2011-12-10
- 性别: GG
- 专业: 物理电子学
2楼2018-05-13 15:22:10