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小木虫论坛-学术科研互动平台 » 材料区 » 无机非金属 » 前沿热点 » 【求助】介电陶瓷高频损耗测试问题
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jackwang-wdl

银虫 (小有名气)
★
闪闪红心(金币+1,VIP+0):谢谢交流！ 4-29 17:37
我们有有4294阻抗分析仪，比你的准确点，网络分析仪不准，只用在低频，夹具误差不好补偿
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11楼2009-04-29 16:28:38
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zhenjiansen511

至尊木虫 (著名写手)
★ ★
洛阳学子(金币+2,VIP+0):多谢交流 4-29 23:11
我们的安捷伦Agilent E8362B矢量网络分析仪测试频率10MHz-20GHz

微波陶瓷的介电性能常用的测试的方法有以下几种：(1) 谐振频率法；(2) 腔体微扰法；(3) 微波开腔法；(4)传输线法；(5) 自由空间法。
平行板谐振法已被广泛用于高电容率、低损耗材料的微波介电性能测量，并成为陶瓷材料介电性能测试最为广泛使用的方法。该测试方法首先由Hakki和Coleman[37]于1960年提出，后来又经Courtney和Kobayashi[38,39]等对该测试方法进行改进，所以这种方法也成为Hakki-Coleman法。本文采用Agilent E8362B矢量网络分析仪测试各参数，得到介质谐振器TE011谐振峰的谐振频率ƒ0、Q、Loss等数据，经测试软件计算得到材料复电容率及Q×f值。谐振频率温度系数τf通过测试介质谐振器样品TE011模谐振频率对温度的变化经计算得到[24]，即：
τf＝                        （2-2）
式中：f1和f0分别为温度为T1和T0时的谐振频率。
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12楼2009-04-29 21:42:04
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