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zhangxiuyu22

捐助贵宾 (著名写手)

海军上将 哈哈哈哈哈士奇

[求助] 求助各位做微纳器件的大佬! 已有1人参与

单层MoS2 FET器件, 电极为Ti/Au, 转移和输出曲线测试过程中性能不稳定, 经过一段时间的测试全部损坏, 测不出输出和转移曲线, 有时电极和样品会烧毁, 有人遇见过这种情况吗?谢谢大家咯!
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如梦的年纪,飘飞的樱花。
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李落寄

银虫 (小有名气)

【答案】应助回帖

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感谢参与,应助指数 +1
zhangxiuyu22: 金币+80, ★★★★★最佳答案, 谢谢,已解决。 2018-03-29 09:50:15
如果器件本身没有问题,那就是测试的方法有问题,可能跟测试过程的频率,电应力强度有关。还有可能就是你做出来的器件本身稳定性与可靠性不高。
2楼2018-03-23 08:57:13
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younghui

新虫 (初入文坛)

可能是静电击穿或者大电压击穿

发自小木虫Android客户端
3楼2018-03-29 01:17:02
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