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在他乡5382

木虫 (正式写手)

[交流] 【求助】在材料的分析方法中透射电镜和扫描电镜有什么区别

请问各位高手在材料分析中,透射电镜和扫描电镜有什么区别?

[ Last edited by ufoer on 2009-3-15 at 23:15 ]
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kfhuo

木虫 (小有名气)


ufoer(金币+1,VIP+0):谢谢交流 3-18 01:10
TEM是透射电子的成像,SEM是背散射电子或2次电子像,原料都不一样。
2楼2009-03-15 20:55:10
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baoyanl

金虫 (知名作家)

区别还是比较大的,看你的需求了
3楼2009-03-15 20:57:26
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long_1102008

木虫 (著名写手)

小木虫驻华代表之觉悟者

区别大大的!!!!
不应问生处,宜问其所行,微木能生火,卑贱生贤达
4楼2009-03-15 22:11:07
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fklh

木虫 (正式写手)

区别大大的!!!!
5楼2009-03-16 20:08:19
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lw172

木虫 (小有名气)

★ ★
ufoer(金币+2,VIP+0):积极回复 3-17 00:38
扫描电镜主要是看样品的表面形貌,而且放大的倍数有限,有的号称分辨率达1nm,但20nm的粒子照出来已经很不清晰了.
投射电镜普遍的分辨率较高,
二者的制样方法也完全不一样,扫描电镜无需很薄,小的块或片都可以
而对TEM来讲,粉体还好说,大的块体材料必须减薄,比较麻烦,如果太厚还有自己先手磨
一点体会.
6楼2009-03-16 20:19:35
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shj8192

金虫 (小有名气)


ufoer(金币+1,VIP+0):谢谢交流 3-18 01:11
扫描电镜主要是看样品的表面形貌,最好是微米级的,效果比较好尤其是有色院做的比较好,可以放大三十万倍,但是纳米级的粉体最好不用扫描电镜,应该选择透射电镜,同时还可以做电子衍射高分辨率投射等,分析样品的晶面与晶格。
7楼2009-03-17 16:11:24
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hotday

金虫 (著名写手)

合金粉末工程师


ufoer(金币+1,VIP+0):谢谢交流 3-18 01:11
TEM原理是透射,用于分析物相或表面(倍率较高)。
SEM原理是反射,用于分析表面和成分(如果有能谱的话)。
活着,就是向圣贤和傻瓜学习
8楼2009-03-17 18:14:07
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coating8397

检测内容:一般的TEM可以做形貌分析,物相分析,结构及缺陷分析,以及判定晶体生长方式等等。SEM主要用于样品的表面形貌分析(二次电子),成分分析(背散射电子),以及成分的点线面分析。对于带有能谱或者其他成分分析附件的TEM也可以做成分分析。
制样方法:SEM的样品要求很简单,导电就行,不导电喷碳喷金喷银让他导电;
TEM制备样品很复杂,尤其是对接的样品。新手嘛,做一个好的样品,得至少半个月吧。能在这个时间内完成的都是高手!
还有……

先说这么多!
9楼2009-03-18 10:31:08
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cattleox0422

金虫 (正式写手)

举个例子说吧,如果介孔材料,孔隙可能用扫描电镜做不出来,因为分辨率不够。但是用透射电镜没有问题,因为在有孔的地方电子透过的多,衬度就出来了。
10楼2009-03-18 22:42:04
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