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XRF检测的原理
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XRF检测的原理是电子受X光照射，跃迁发出的特征光谱，是吧？ 这个大的宽泛的道理我懂，但是具体是如何操作的呢，或者具体的过程是什么？有什么样的定量公式（比如标准曲线什么的） 求助光谱分析高手 |
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X射线荧光光谱分析的技术：是任何元素在受到适当的激发的时候都会发射出特征辐射。这种激发可以是高速粒子，例如电子、质子、a粒子和离子的撞击；也可以是来自X射线管或者其他适合的辐射源的高能辐射的照射来实现。 X射线荧光是指X射线管或者其他合适的辐射源照射物质，使组成物质的元素产生具有特征性的一种次级X射线。 XRF分为波长色散型WDX和能量色散型EDX两种类型；常规采用的是EDX。两者都是采用X射线管作为样品的激发源，所不同的是检测的X射线谱不同。WDX中荧光光谱通过色散元件(如晶体）被分离成为不连续的波段，然后用气体正比计数器或者闪烁计数器检测。在EDX中，使用固体检测器例如Si(Li)或者HPGE检测整个荧光光谱，然后用多道分析器得到能量的信息。 一般说来，现在的XRF能够满足一般分析测试的需求，其误差主要来自于样品。因此需要对样品的制备和处理相当重视。 同时XRF作为一种比较分析技术，要求所有进入仪器测试的标准样品和未知样品具有相同的形貌和重现性。任何样品制备方法，都必须保证样品制备的重复性，并在一定的浓度范围内使样品具有相似的物理性质。 它的定量原理和分析化学中其他的定量原理是一样的，用标准光谱标样作能量-含量工作曲线即可。 [ Last edited by kmd2005 on 2009-3-15 at 08:11 ] |
2楼2009-03-15 07:51:19