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lxdytu

金虫 (正式写手)

[交流] 【求助】XRD表征的问题!

我是在AAO模板内合成纳米材料,请问在做XRD测试的时候是用XRD薄膜测试,还是XRD粉末测试?(我们所有俩个XRD测试仪,一个是XRD粉末,另一个为XRD薄膜的)两者之间有什么区别?谢谢!
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ljh211

禁虫 (正式写手)

★ ★
popsheng(金币+2,VIP+0):3x,金币上百后就安排转为专家顾问 3-5 12:12
粉末的就可以吧,方便。
取舍一念间,进退一瞬间
2楼2009-03-05 11:40:36
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aishan

版主 (文坛精英)

优秀版主优秀版主


wdwsnnu(金币+1,VIP+0):3x,谢谢讨论,注意错别字 3-5 13:12
两个都可以啊,样品多用粉么,少就用薄膜吧
3楼2009-03-05 12:47:47
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spc08

荣誉版主 (文学泰斗)

一般用粉的
4楼2009-03-05 14:40:42
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Au6803

铜虫 (小有名气)


wdwsnnu(金币+1,VIP+0):3x,欢迎常来 3-5 18:15
个人认为用粉末测试仪即可,因为测粉末的也可以测薄膜,主要看你的最终产物是什么状态.薄膜XRD还可以测面内面外,极图等.
Fighting Miss Au
5楼2009-03-05 16:04:40
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lxdytu

金虫 (正式写手)

谢谢你们的回复!这次我又在衬底表面生长的纳米材料,用测粉末的XRD测量的,发现衬底的峰特别的强,这个问题如何解决?请高手指点!
6楼2009-03-06 08:34:06
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enquan123

金虫 (著名写手)

引用回帖:
Originally posted by lxdytu at 2009-3-6 08:34:
谢谢你们的回复!这次我又在衬底表面生长的纳米材料,用测粉末的XRD测量的,发现衬底的峰特别的强,这个问题如何解决?请高手指点!

有没有可能出现择优取向?
No matter what I do,I always forget to forget you...
7楼2009-03-09 10:00:59
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