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易损伤材料TEM制样
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一些化合物半导体例如InP这类材料在用氩离子减薄时会引入离子减薄损伤,影响样品观察。但是这些样品又很脆,很难用其它方法制样。之前调研过两种制样方法:低能氩离子束减薄与碘离子减薄。请问哪里可以找到相关的仪器?还请有经验的同学指导一下,像这种脆性易损伤样品制备还有什么其它方法? 发自小木虫Android客户端 |
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2楼2018-02-02 23:34:42
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