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小木虫论坛-学术科研互动平台 » 材料区 » 材料综合 » 材料其他 » 易损伤材料TEM制样
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斑竹影斜

新虫 (初入文坛)

[求助] 易损伤材料TEM制样

一些化合物半导体例如InP这类材料在用氩离子减薄时会引入离子减薄损伤，影响样品观察。但是这些样品又很脆，很难用其它方法制样。之前调研过两种制样方法：低能氩离子束减薄与碘离子减薄。请问哪里可以找到相关的仪器？还请有经验的同学指导一下，像这种脆性易损伤样品制备还有什么其它方法？

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1楼 2018-01-15 19:08:34
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TEM分析测试

新虫 (小有名气)
不知道硬度怎么样？软，可以切片

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2楼2018-02-02 23:34:42
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GRINM文浪

铁虫 (小有名气)
请问楼主找到合适的制样方法了吗？
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3楼2019-09-02 13:50:14
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