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风在北方

木虫 (正式写手)

[求助] XRD数据分析。晶型和无定型。 已有2人参与

大家好,问一个问题。
要是我在晶型材料比如二氧化钛上覆盖了一层无定型材料。
用平行光测试XRD,是不是就很难测出二氧化钛的峰。或者由于无定型覆盖层,二氧化钛特征峰会变弱?

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风在北方

木虫 (正式写手)

引用回帖:
2楼: Originally posted by 迟钝的天才 at 2017-09-15 18:02:37
不会的,X射线的穿透性很强的,并不会因为你覆盖上一层而印象原本的特征峰强弱

如果穿透性强的话,是不是也有个范围。比如几百纳米?

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3楼2017-09-15 23:55:06
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迟钝的天才

至尊木虫 (文坛精英)

【答案】应助回帖

★ ★
温心若水: 金币+2, 应助指数+1, 谢谢应助,欢迎常来交流 2017-09-16 08:20:40
不会的,X射线的穿透性很强的,并不会因为你覆盖上一层而印象原本的特征峰强弱

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I'mherefightingforsuccess!
2楼2017-09-15 18:02:37
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迟钝的天才

至尊木虫 (文坛精英)

引用回帖:
3楼: Originally posted by 风在北方 at 2017-09-15 23:55:06
如果穿透性强的话,是不是也有个范围。比如几百纳米?
...

与掠射角、波长、样品组成等,一般而言,在低角度只有几个微米,而高角度可能达到100-150um。

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I'mherefightingforsuccess!
4楼2017-09-16 08:34:48
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leaves922

木虫 (正式写手)

【答案】应助回帖

感谢参与,应助指数 +1
用平行光做掠射,入射角选的合适的话,可以规避基底的衍射

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5楼2017-09-16 15:41:56
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