| 查看: 1194 | 回复: 12 | ||
| 当前只显示满足指定条件的回帖，点击这里查看本话题的所有回帖 | ||
minizhuangge银虫 (小有名气)
|
[求助]
XPS测试细节
|
|
|
求助 我检测的XPS样品，在总谱里面有S的峰在单独扫描的S元素中没有峰，这是因为什么 XPS测试是打点吗。总谱也是打点吗，还是类似于SEM的点扫面扫一样啊 求知情人告解  总谱  S 2p |
回复此楼» 猜你喜欢
深地科学与能源资源开采方向课题组预录取2026年度博士生1名
已经有1人回复
-
结晶态硅酸钠中硅含量测定
已经有2人回复
-
有机高分子材料论文润色/翻译怎么收费?
已经有150人回复
-
硅肥中硅含量测定
已经有1人回复
-
您好，请问热重TGA原始文件ngb-dt6用什么软件可以打开导出数据？
已经有0人回复
-
北京科技大学鲁启鹏招收2026年博士生1名
已经有27人回复
-
关于授权的相关合作
已经有0人回复
-
代算！材料学理论计算
已经有7人回复
-
理论计算，可代算，可合作，欢迎交流
已经有4人回复
-
中国地质大学（武汉）地质资源与地质工程学科招收硕士
已经有0人回复
5楼2017-09-04 15:06:55