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关于掠入射测xrd和普通粉末xrd测试关系的问题 已有2人参与
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| 假如一个材料是薄膜，用掠入射测可以减弱背景的峰。那么同样的材料同样的物相，现在可以测粉末，那么用掠入射和非掠入射测的谱图应该是一样的，这个说法对不对？ |
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不一定，除非你的样品是无规取向的，那做任何方式的扫描都一样，且对称扫描强度最好，如果你的样品排列有规律，且呈现一定的夹角，类似于筷子散在筷子桶里，那你做掠射应该会换一个入射角就会出现不同位置的峰 发自小木虫IOS客户端 |
2楼2017-08-29 10:25:58
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3楼2017-08-29 10:27:32
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