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小子2255新虫 (著名写手)
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CVD单层石墨烯硅片基底能否用NanoScope Ⅲa测出来
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请问一下各位前辈，我的样品是CVD生长的单层Graphene film转移到了硅基底上 现在想做一个AFM，打算用Veeco公司的NanoScope Ⅲa MultiMode AFM，不知是否可行，能否扫出来呢？ 后期经过处理之后graphene film表面会产生一些1nm左右的孔洞缺陷，能否用这个仪器扫出来呢 |
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