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DR77520

新虫 (正式写手)

[求助] XRD 多次测量均得不到要的峰,求助!!!已有4人参与

我用铝跟水反应,反应后生成AlOOH(勃姆石),SEM图片显示该勃姆石为厚度8-10nm,长度约160nm的纳米片状结构。但是做了多次XRD表征都得不到AlOOH的峰,只是有Al的峰存在。请问是不是因为这层纳米结构太薄了,在XRD测试过程中被打穿了?如果是这样的话,我延长铝与水反应的时间再去测会不会有效果呢?
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598878157

版主 (文学泰斗)

rky

【答案】应助回帖

感谢参与,应助指数 +1
是Al的峰太强了,把你要的物相压下去了,你可以把得到的intensity取对数,就能更清楚地分辨是否得到你想要的物相了,如果SEM已经观察到了,那就说明是XRD没测到,而不是没反应。
3楼2017-06-27 09:01:43
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kangye_1989

木虫 (著名写手)

【答案】应助回帖

感谢参与,应助指数 +1
确实是太薄了,延长反应时间从理论上讲是会增加薄膜厚度的
2楼2017-06-27 08:28:19
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抹茶奶昔

至尊木虫 (正式写手)

An Atypical Engineering Doc

【答案】应助回帖

感谢参与,应助指数 +1
可以延长反应时间,通过掠入射角X射线衍射来分析表层物相结构,掠入射角0.5-3度即可。

发自小木虫IOS客户端
Magnetic alloys and films; Spin caloritronics; Ferroics.
5楼2017-06-28 08:13:11
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普通回帖

peterflyer

木虫之王 (文学泰斗)

peterflyer


【答案】应助回帖

感谢参与,应助指数 +1
个人认为,这是因为膜太薄、AlOOH的量太少了,而XRD的测试精度太粗糙了,不能感受到它的存在。
4楼2017-06-27 13:40:15
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George.bo

新虫 (小有名气)

6楼2017-06-28 12:26:52
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DR77520

新虫 (正式写手)

引用回帖:
2楼: Originally posted by kangye_1989 at 2017-06-27 08:28:19
确实是太薄了,延长反应时间从理论上讲是会增加薄膜厚度的

恩恩,我延长反应时间再测测看。多谢!
7楼2017-06-28 13:23:53
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DR77520

新虫 (正式写手)

引用回帖:
3楼: Originally posted by 598878157 at 2017-06-27 09:01:43
是Al的峰太强了,把你要的物相压下去了,你可以把得到的intensity取对数,就能更清楚地分辨是否得到你想要的物相了,如果SEM已经观察到了,那就说明是XRD没测到,而不是没反应。

好的,O(∩_∩)O谢谢
8楼2017-06-28 13:24:33
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DR77520

新虫 (正式写手)

引用回帖:
5楼: Originally posted by 抹茶奶昔 at 2017-06-28 08:13:11
可以延长反应时间,通过掠入射角X射线衍射来分析表层物相结构,掠入射角0.5-3度即可。

好的,谢谢
9楼2017-06-28 13:25:52
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DR77520

新虫 (正式写手)

引用回帖:
4楼: Originally posted by peterflyer at 2017-06-27 13:40:15
个人认为,这是因为膜太薄、AlOOH的量太少了,而XRD的测试精度太粗糙了,不能感受到它的存在。

可能是的,感谢指点!
10楼2017-06-28 13:26:38
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