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h_200604铁杆木虫 (著名写手)
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XRD测量含杂质炭材料的石墨化度的问题
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我们有一种炭材料需要分析其加权石墨化度，也就是无定形碳和石墨的平均石墨化度。需要知道各种成分碳的含量及其石墨化度，炭材料里面主要含有氟化钙、K2NaAlF6、氟化钠，碳化铝等杂质，总灰分超过30%，做的XRD分析图谱中氟化钙的衍射峰与单晶硅内标的峰重合，导致无法用单晶硅校准，无法得出精确的d002峰位。冰晶石等的衍射峰有的位于无定形碳衍射峰包区域，叠加起来导致无法知道无定形碳衍射峰包的强度。分析人员说测不了，不知有没有什么处理方法可以解决问题？ 图片是物相分析  试样物相分析.jpg |
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