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小木虫论坛-学术科研互动平台 » 学术交流区 » 论文投稿 » 投稿求助 » 为什么EDS测试中会有少了的硅元素出现
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rcxy

铁虫 (初入文坛)

[求助] 为什么EDS测试中会有少了的硅元素出现 已有1人参与

在原有的催化剂中没有硅元素，测试的EDS中出现了少量硅元素，审稿人问，应该怎么解答，谢谢！
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1楼 2017-04-19 09:39:35
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peterflyer

木虫之王 (文学泰斗)

peterflyer

【答案】应助回帖

感谢参与，应助指数 +1
那么催化剂的载体里有无硅元素呢？我看到很多催化剂如纳米铁纳米镍催化剂的载体是硅藻土（主成份二氧化硅），那里面是有硅元素的。
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2楼2017-04-19 10:10:52
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rcxy

铁虫 (初入文坛)
引用回帖:
2楼: Originally posted by peterflyer at 2017-04-19 10:10:52
那么催化剂的载体里有无硅元素呢？我看到很多催化剂如纳米铁纳米镍催化剂的载体是硅藻土（主成份二氧化硅），那里面是有硅元素的。

载体也不含硅
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3楼2017-04-19 17:05:51
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ajcuf35
4楼2017-08-18 05:47:14
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ajcuf35
5楼2017-08-18 20:18:21
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ajcuf35
6楼2017-08-19 04:18:51
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ajcuf35
7楼2017-08-20 19:39:40
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ajcuf35
8楼2017-08-21 02:43:40
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木子木木00

新虫 (小有名气)
我的材料里面也没有回。但是因为我是测SEM是测的EDS，需要滴到硅片上，所以我觉得硅的峰应该是基底峰

发自小木虫IOS客户端
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9楼2018-08-09 16:30:41
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3160340

新虫 (初入文坛)
引用回帖:
3楼: Originally posted by rcxy at 2017-04-19 17:05:51
载体也不含硅...

逃逸峰是Si ( Li)探测器在检测过程中的副产品，当一个能量为E的X射线光子进人探测器后，可能使硅原子电离而产生Si Ka射线，如果这种Si K。射线是在晶体的边沿产生或Si的Ka线离探测器表面很近时，就有可能逃出探测器，并携带走1. 74 ke.V的能量，这样使检测到的X射线的能量不是E，而是(E一1. 74) keV，因此在主峰(能量为E)的左侧会出现一个小峰(能量为E-1. 74 keV)，这个小峰就叫做逃逸峰逃逸峰的位置永远比主峰1. 74keV.而且峰高约为主峰的0.1%一1%
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10楼2018-12-11 21:05:44
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