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zyxie123铜虫 (小有名气)
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[交流]
XPS分峰【有效期至2009年1月10日】
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请各位熟悉XPS操作的学友们告诉一下，XPS分峰的目的和原则是什么？如何根据自己的需要进行分峰操作呢？ [ Last edited by zzgyb on 2009-1-15 at 11:42 ] |
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zyxie123(金币+5,VIP+0):非常感谢！
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分峰的目的当然是将复合和叠加在一起的峰分离出来以便进行深入分析，分峰的三要素是：各个峰的位置、半高宽和峰形。 分峰方法可下载：XPS分峰步骤和方法。 http://www.namipan.com/d/2334ed6 ... f1c069daedf00243100 |
2楼2009-01-04 09:00:36
zyxie123
铜虫 (小有名气)
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3楼2009-01-04 09:52:03
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首先要注意，只有窄扫描的峰才可以用于分峰处理。此外，必须要有相关的数据作为参考，即事先要知道要分析的元素的电子结合能，然后与待测试样进行对比，看看是否出现化学位移。 对于你的实验目的，我认为至少要做两个样品，一个是对比试样，一个是你处理过的样品，对这两个样品的的元素进行精细对比，看对应元素如碳或硅的电子结合能是否发生变化。 请恕我直言，如果没有老师指点和相应的参考文献，你还是尽量不要用 XPS进行分析，因为很难找到参考数据。而且分析起来难度极大。当然，如果在你所测得的谱图上的确出现明显的变化，比如出现明显的肩峰，那么XPS是个不错的选择。但结果往往不尽如人意。 我认为你可以才用其他方法，如FTIR，我认为是个不错的选择。例如，你可以将处理过的活性炭进行纯化处理，即采用某种方法除去未反应的氯硅烷，然后进行FTIR测定，如果出现Si-CH3基团的特征吸收，则认为发生了你所预期的反应。 我曾经用这种方法对氯硅烷处理的无机晶须进行表征，得到满意的结果。 |
4楼2009-01-05 00:08:07
