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sunxiao8000木虫 (正式写手)
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sunxiao8000
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2楼2017-04-11 07:53:43
hbc1234
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【答案】应助回帖
感谢参与，应助指数 +1
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需要多参数拟合，参见如下文献： [1] Joo H-Y, Kim H J, Kim S J, et al. Spectrophotometric analysis of aluminum nitride thin films [J]. Journal of Vacuum Science & Technology A, 1999, 17(3): 862-870. [2] Kim S Y. Simultaneous determination of refractive index, extinction coefficient, and void distribution of titanium dioxide thin film by optical methods [J]. Appl Opt, 1996, 35(34): 6703-6707. [3] Dobrowolski J A, Ho F C, Waldorf A. Determination of optical constants of thin film coating materials based on inverse synthesis [J]. Appl Opt, 1983, 22(20): 3191-3200. [4] Peng C H, Desu S B. Modified Envelope Method for Obtaining Optical Properties of Weakly Absorbing Thin Films and Its Application to Thin Films of Pb(Zr,Ti)O3 Solid Solutions [J]. Journal of the American Ceramic Society, 1994, 77(4): 929-938. |
3楼2017-04-11 17:31:07
xgp326265322
铁虫 (正式写手)
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4楼2020-03-18 17:16:40
