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小木虫论坛-学术科研互动平台 » 化学化工区 » 无机/物化 » 实验技术 » 关于半导体样品的EPR测试
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高斯门徒

银虫 (小有名气)

[求助] 关于半导体样品的EPR测试 已有1人参与

想测试半导体材料的氧空位缺陷的，样品是长在FTO基底上的半导体纳米晶，请问EPR测试的话，需要对样品加光照吗，看很多文献里面好像都没有提到测EPR的时候加不加光照，也有提到说进行光照测试的，如果光照以后EPR的信号强度应该会更明显吧，第一次测这个，希望高手解答一下
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1楼 2017-04-08 20:10:16
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高斯门徒

银虫 (小有名气)
自顶
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2楼2017-04-10 09:13:37
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橘子皮－O－

新虫 (初入文坛)

【答案】应助回帖

★ ★ ★ ★ ★
高斯门徒: 金币+5, ★有帮助 2017-04-27 15:24:08
我们这边测氧空位信号是不加光照的，测自由基的时候才加，这是可以自己要求的
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3楼2017-04-27 11:27:23
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高斯门徒

银虫 (小有名气)
引用回帖:
3楼: Originally posted by 橘子皮－O－ at 2017-04-27 11:27:23
我们这边测氧空位信号是不加光照的，测自由基的时候才加，这是可以自己要求的

好的，了解啦，谢谢你的解答
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4楼2017-04-27 15:23:53
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lxj669635

木虫 (正式写手)
引用回帖:
3楼: Originally posted by 橘子皮－O－ at 2017-04-27 11:27:23
我们这边测氧空位信号是不加光照的，测自由基的时候才加，这是可以自己要求的

你好！加光照测氧空位时，发现加光照之后强度增加，这能说明光照后氧空位浓度变大吗？
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5楼2021-05-18 11:03:46
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