| 查看: 1451 | 回复: 1 | ||
张晓红xhm金虫 (初入文坛)
|
[求助]
椭偏仪测试样品模型选择问题 已有1人参与
|
|
大家好，我在晶相为111的硅片表面接了一层透明的聚合物PHEAA，想用椭偏仪测量接上的聚合物厚度，但是几次的测试结果都很奇怪，大概有十几个纳米。 我想是不是测量时模型的建造不合适（我选择的寸底是Si，加了一层2nm的SiO2），因为是新手所以这方面的知识还不懂，求赐教：在测量时我的样品应该选 择什么样的模型或有关模型建造的资料，十分感谢！ |
回复此楼» 猜你喜欢
为什么中国大学工科教授们水了那么多所谓的顶会顶刊，但还是做不出宇树机器人？
已经有9人回复
-
版面费该交吗
已经有9人回复
-
体制内长辈说体制内绝大部分一辈子在底层，如同你们一样大部分普通教师忙且收入低
已经有13人回复
-
面上可以超过30页吧？
已经有4人回复
-
“人文社科而论，许多学术研究还没有达到民国时期的水平”
已经有5人回复
-
什么是人一生最重要的？
已经有4人回复
» 本主题相关商家推荐: (我也要在这里推广)
2楼2017-04-24 09:52:31