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张晓红xhm

金虫 (初入文坛)

[求助] 椭偏仪测试样品模型建造问题

大家好,我在晶相为111的硅片表面接了一层透明的聚合物PHEAA,想用椭偏仪测量接上的聚合物厚度,但是几次的测试结果都很奇怪,大概有十几个纳米。

我想是不是测量时模型的建造不合适(我选择的寸底是Si,加了一层2nm的SiO2),因为是新手所以这方面的知识还不懂,求赐教:在测量时我的样品应该选

择什么样的模型或有关模型建造的资料,十分感谢!
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