| 查看: 1053 | 回复: 2 | ||
[求助]
关于半导体样品的EPR测试
|
| 想测试半导体材料的氧空位缺陷的，样品是长在FTO基底上的半导体纳米晶，请问EPR测试的话，需要加光照吗，看文献里面好像都没有提到测EPR的时候加不加光照，第一次测这个，希望高手解答一下 |
回复此楼» 猜你喜欢
疲劳寿命预测 求收留
已经有3人回复
-
SCI论文投稿with editor十天正常吗？
已经有2人回复
-
金属材料论文润色/翻译怎么收费?
已经有154人回复
-
26年秋季金属方向博士申请-目前研三在读-发表SCI 1区和2区学术论文共两篇
已经有1人回复
-
审稿日期短时间内频繁更换，是被拒的节奏吗？
已经有10人回复
-
谭编的ECbox电化学分析软件，请提供下载链接
已经有0人回复
-
如何产生Frank分位错
已经有2人回复
-
TLC观测一些显色不灵敏化合物
已经有2人回复
-
请大家帮忙看下，这样的审稿状态是否凶多吉少？
已经有12人回复
-
RuFe
已经有0人回复
» 本主题相关商家推荐: (我也要在这里推广)
2楼2017-04-08 20:28:03
3楼2017-04-08 20:29:08