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vegalew

金虫 (小有名气)

[交流] 【请教】高分辨TEM得到的图片距离表面大概多深？

小弟有两个外行问题，希望有TEM经验的虫友不吝赐教
1.高分辨得到的TEM图片（比例尺为5nm）大概可以聚焦到材料表面以下多深的距离啊？

2.按照两面一夹角的标准测量物质是否会有可能很巧合的正好碰到A物质的某两个面的间距和夹角正好和B物质的类似，在误差允许的范围内 （比如5%）把A晶体错当成了B晶体？
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1楼 2009-01-01 01:35:00
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lulinsmann

木虫 (著名写手)

三无小小鸟
★ ★ ★
memser(金币+3,VIP+0):感谢解答！
尝试解答：
1. 透射电镜，顾名思义，电子束完全透过材料了，因此，其聚焦跟材料表面没有关系
2. 确实有可能，所以通过TEM来标定物相必须多角度进行，以互相印证。麻烦的很，不如做XRD吧
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江湖背影
2楼2009-01-06 15:48:49
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vegalew

金虫 (小有名气)
★ ★ ★
memser(金币+3,VIP+0):感谢解答，很详细！
1. 透射电镜，顾名思义，电子束完全透过材料了，因此，其聚焦跟材料表面没有关系

虽然穿透但是聚焦的焦平面之是一个无限薄的某层原子吧，聚焦的深度总是可以估计的吧， 总不会拍出来的照片聚焦在材料最中间的部分吧

2.我针对的材料不是XRD照照那么简单的
比如参见

J. Phys. Chem. C, 2008, 112 (51), pp 20539–20545

http://pubs.acs.org/doi/abs/10.1 ... 0539&volume=112

[ Last edited by vegalew on 2009-1-6 at 16:30 ]
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3楼2009-01-06 16:24:53
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wangcen

木虫 (正式写手)
★ ★ ★
jackchen145(金币+3,VIP+0):3x应祝，欢迎常来纳米版！
1 实际上不管是高分辨还是普通透射，我们总是要用到调焦旋钮嘛，而且你问的那个是高分辨成像，只有完全穿透材料才可能看得到晶格线，没有说穿透多少nm
2 在标定晶面的时候不能只利用一组晶面间距，我们需要相交成一定角度的两组晶面，由于对不同物质他们的晶面间距和特定晶面与特定晶面之间的夹角是存在相关的关系的，因此来判定高分辨图中几个晶面的各个指数。
但有时候可能由于电镜自身标尺的差异，晶面间距与pdf卡片上的不一致，但是不同晶面对应的晶面间距的比例是一定的，我们可以先找一个确定的物质来自己进行标定~~
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4楼2009-01-06 19:54:46
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lulinsmann

木虫 (著名写手)

三无小小鸟
★ ★
memser(金币+2,VIP+0):3X
1. 虽然穿透但是聚焦的焦平面之是一个无限薄的某层原子吧，聚焦的深度总是可以估计的吧， 总不会拍出来的照片聚焦在材料最中间的部分吧
确实有一个焦平面，但不在样品中的任何一处，而是在样品以下的某个地方。我记得电子束是先透过样品，然后由物镜聚焦，因此焦平面是在物镜之下的。详情建议你参看一下TEM的成像原理图
2. 4楼的办法是可行的，即在标定时不但要利用晶面间距，还要利用晶面间的夹角
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江湖背影
5楼2009-01-07 15:11:40
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vegalew

金虫 (小有名气)
感谢大家的讨论，还有些问题：

J. Phys. Chem. C, 2008, 112 (51), pp 20539–20545

如上文所述，XRD得到的晶相 同 HRTEM所有的图片上两个晶面+一个夹角测量的晶相是不同的

因此就怀疑HRTEM照到的晶相是在表面的 XRD得到的相是在内部的 构成所谓的CORE-SHELL纳米复合结构

这样合理么？

如果合理的话HRTEM照片得到的照片应该是某层原子的吧？

总之我的问题是，HRTEM得到的照片是穿透材料的材料内某层原子的反应，还是整个材料任何厚度上的原子排列的总体反应？？？
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6楼2009-01-08 13:16:19
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