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XRD在25°左右出现了一个未知的峰 已有1人参与
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材料：在Si基材上制备了600nm的CrN薄膜（Cr100nm打底） 测试商：沈阳东北金属材料研究院有限公司 XRD：日本理学 smart lab 测试参数：低掠角（0.3°和1°），2 theta（20-90°），step 0.01 测试人员说试样放在玻璃片上，但是测出来在25°左右出现了一个未知的峰，和我薄膜的物质不相关，不知道这可能是什么原因。 图中在0.3°和1°低掠角条件下，25°那个峰不一致，但是CrN的峰重合很好，所以怀疑是测试问题。  XRD测试参数.jpg  XRD.jpg  碳峰.jpg |
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 薄膜制备与特性 |
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