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粉末材料怎么样制备探针法测试所用的样品？ 已有1人参与
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| 计划对合成出的半导体粉末材料，使用探针法测试其电阻等电学性能，现在使用压力机压的直径5mm的片，然后烧结后测试，但是中间还是有裂纹，而且一扎裂纹更大了；用的第二种方法是物理超声喷膜，之后烧结，但是结果还是不行，求教于各位虫友，在粉末测试电磁学方面是否有好的方法？谢谢大家 |
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