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zyming20051

铁杆木虫 (正式写手)

[交流] 【求助】Hitachi F-4500荧光分光光度计的使用

求助Hitachi F-4500荧光分光光度计的使用
1.测固体材料时,同一样品为什么每次测试的荧光强度值变动很大,(参数设置都没有变化),这个仪器对样品大小形状有要求吗?测试穿透厚度是多少?
2.如何去除倍频峰啊?
请高手指点,谢谢啦!

[ Last edited by zyming20051 on 2008-12-17 at 13:52 ]
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robinsonguo

木虫 (著名写手)

★ ★
zyming20051(金币+1,VIP+0):谢谢!
zyming20051(金币+1,VIP+0): 4-19 11:24
1、你是同一种样品,不同时间测量的吗?如果是,强度变化很大,很正常。因为因素太多。
2、用滤色片
引用回帖:
Originally posted by zyming20051 at 2008-12-14 12:51:
求助Hitachi F-4500荧光分光光度计的使用
1.测固体材料时,同一样品为什么每次测试的荧光强度值变动很大,(参数设置都没有变化),这个仪器对样品大小形状有要求吗?
2.如何去除倍频峰啊?
请高手指点,谢谢啦 ...

2楼2008-12-14 18:41:29
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zyming20051

铁杆木虫 (正式写手)

我是同一时间测得呀,怎么会变化也是很大呢?
我没发现机器有插滤波片的地方啊,以前用过RF-5301PC的就可以放滤波片的
3楼2008-12-14 20:07:33
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bosezi

木虫 (正式写手)

★ ★
zyming20051(金币+1,VIP+0):谢谢回答,请进一步说明。
zyming20051(金币+1,VIP+0): 4-19 11:24
仔细找会看到放滤波片的位置
确实和样品多少大小有很大关系
4楼2008-12-14 20:56:09
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zyming20051

铁杆木虫 (正式写手)

引用回帖:
Originally posted by bosezi at 2008-12-14 20:56:
仔细找会看到放滤波片的位置
确实和样品多少大小有很大关系

可是我同样一个样品测完以后就测第二次就会变动很大呀,那要怎样才能稳定呢?还有具体对样品的大小什么要求呢?我是薄膜样品,大概是0.5cm*0.5cm大小的
5楼2008-12-14 21:15:01
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yinshengxu

木虫 (著名写手)

★ ★ ★ ★
zyming20051(金币+2,VIP+0):谢谢
zyming20051(金币+2,VIP+0): 4-19 11:24
首先,样品摆放的位置影响是最大的,我用的仪器和你不一样,但是我的一般是一个面打进去激光,另外一个垂直的面测试。这样尽可能减少反射等的影响。对折射率高的样品很有用。本身这个测试主要看的是峰的位置,形状,而不是强度。所以强度的不同不要紧。其它只要没问题就可以了,还有就是要比较的样品最好是同一次测试才有可必性。
倍频峰一般按照上述的方法测试的话相对较小,如果需要去除,可以手动修改一下图,或者加滤波片吧,对应的,一般比较难找合适的。看你们有条件用滤波片最好

[ Last edited by yinshengxu on 2008-12-14 at 22:24 ]
6楼2008-12-14 22:17:22
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zyming20051

铁杆木虫 (正式写手)

怎么会和强度不要紧呢?不同浓度的掺杂稀土要比较的就是强度啊。而且测试样品台就是设置刚好的垂直于入射光和发射光接受器的呀
我说的是样品不动的条件下,连续测几次就会有强度变化值很大,是否是参数设置的问题?
7楼2008-12-14 22:45:58
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yinshengxu

木虫 (著名写手)

★ ★
zyming20051(金币+1,VIP+0):谢谢!
zyming20051(金币+1,VIP+0): 4-19 11:25
所以同一条件下测试就可以了,你可以把激光功率低一点吗?样品都不动,只能是样品被打坏,其它没有就剩下仪器有问题了。
引用回帖:
Originally posted by zyming20051 at 2008-12-14 22:45:
怎么会和强度不要紧呢?不同浓度的掺杂稀土要比较的就是强度啊。而且测试样品台就是设置刚好的垂直于入射光和发射光接受器的呀
我说的是样品不动的条件下,连续测几次就会有强度变化值很大,是否是参数设置的问题?

8楼2008-12-14 23:05:57
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zyming20051

铁杆木虫 (正式写手)

请大家继续指点呀,我测得固体粉末样品重复性很好,强度变化不大,但是测膜材料强度变化大,膜大概有100-300nm厚
9楼2008-12-16 11:00:15
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