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smiling123go

新虫 (初入文坛)

[求助] 求问关于BSI、DLTS的基础理解??? 已有1人参与

看论文中出现对MOSFET器件的BSI测量,麻烦问下,BSI具体是如何实施的,感觉直接看论文看不懂。。。谢谢~~还有,半导体材料级的DLTS测量都能得到哪些内容,能得到缺陷的浓度吗???初来乍到的,实在没有多少金币,希望有大神帮帮忙哈~~
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梦彩虹的天空

新虫 (初入文坛)

【答案】应助回帖

DLTS可以测得缺陷的能级、浓度、俘获截面参数
2楼2017-11-07 10:17:15
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