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fordreamnju铁杆木虫 (正式写手)
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[交流]
【请教】关于AFM的一些问题
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1. STM和AFM成像时，扫描速率的表达问题。有的用Hz表示扫速，有的line/s表示，有的用50,000点/s表示，还有的用nm/s表示。这些扫速单位怎样换算的？（1 Hz = 1 line/s？）line是STM和AFM中的扫描线吗？是怎样定义的？ 2. 对于STM和AFM，怎样通过扫速（上述不同单位）计算单位时间内的扫描面积？ 3. 不同STM和AFM仪器，line/s或点/s中line或点是怎样界定的？是否不同型号的仪器都一样？ 4. 对于STM，根据针尖顶端原子和基底的隧穿电流探测表面状况。扫描时每次可探测样品表面一个点，而STM表征都是扫描一个面积，是怎么操作的？ [ Last edited by SHY31 on 2008-12-5 at 12:46 ] |
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3楼2009-01-08 17:41:32
SHY31
至尊木虫 (知名作家)
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- 专业: 半导体材料
【请教】关于AFM的一些问题
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fordreamnju(金币+1):谢谢参与
fordreamnju(金币+1):谢谢参与
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怎么会在这里问的呢？？ 怎么不去咱们材料综合版问呢？ 1.一般都是用HZ表示的，至少我们在测试的时候选择速度的那个都是Hz的 2。计算这个干什么用的呢？扫面面积都是先选定好的，每秒的扫描面积一除不就是了吗 3我以前是兼职AFM/STM的测试员，不过不清楚这个问题哦 4不知道你想问的什么问题，一般扫描面积都是设定的，或者要换扫描器来定那个扫描的最大范围，STM我觉得还是比较好操作的。不过对样品要求比较高。一般要是导体或者半导体  [ Last edited by SHY31 on 2008-12-5 at 12:46 ] |
2楼2008-12-05 12:10:55